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晶棒參考面X射線定向儀時間:2023-09-14型號:ALL-CKMD400型廠商性質:生產廠家瀏覽量:20190
晶(jing)棒(bang)參考(kao)面X射線(xian)定向儀的結構(gou)與功能介紹:基(ji)(ji)準平(ping)臺(tai)(tai)(tai):此(ci)件固定在主機的臺(tai)(tai)(tai)面板(ban)上(shang)(shang),測量時做水平(ping)基(ji)(ji)準面,基(ji)(ji)準平(ping)臺(tai)(tai)(tai)的右側(ce)為(wei)定位面,左側(ce)為(wei)夾緊(jin)裝置,左側(ce)的夾緊(jin)裝置上(shang)(shang)有(you)夾緊(jin)螺釘,設備配(pei)套的夾具在測量時放于基(ji)(ji)準平(ping)臺(tai)(tai)(tai)上(shang)(shang)。
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半自動尋峰X射線定向儀時間:2023-09-14型號:ALW-QZXD 800型廠商性質:生產廠家瀏覽量:18972
ALW-QZXD 800型(xing)半自(zi)動尋峰(feng)(feng)X射線定(ding)向儀為雙(shuang)工作臺,左右工作臺均(jun)能滿足2~8寸晶片的測量,重(zhong)復精度(du)為±3“。測定(ding)單晶材料(liao)的峰(feng)(feng)位(wei)角(jiao),使用于工業(ye)生產的一般要求。
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全封閉晶棒XY軸X射線定向粘料儀時間:2023-09-14型號:ALW-XYDZ 700A 型廠商性質:生產廠家瀏覽量:18935
ALW-XYDZ 700A 型全(quan)封閉(bi)(bi)晶棒XY軸(zhou)(zhou)X射線定(ding)向(xiang)粘(zhan)料儀為(wei)全(quan)封閉(bi)(bi)式雙工作(zuo)臺(tai)(tai),左側工作(zuo)臺(tai)(tai)在X光下對(2~6)英寸(cun)(cun)藍(lan)寶(bao)石(shi)晶棒X軸(zhou)(zhou)定(ding)向(xiang),晶棒長度Z短為(wei)20mm,利用導軌滑動在一塊(kuai)料板上,粘(zhan)結多(duo)塊(kuai)晶棒;右(you)側工作(zuo)臺(tai)(tai)在X光下利用工具(ju)(ju)對(2~6)英寸(cun)(cun)藍(lan)寶(bao)石(shi)晶棒Y軸(zhou)(zhou)角度定(ding)向(xiang),然后將晶棒和(he)夾具(ju)(ju)一起(qi)放到磨(mo)床進行參考面(mian)的玻璃面(mian)進行磨(mo)平、加工.儀器定(ding)向(xiang)粘(zhan)結精度±15“/30“,Z小讀數1“,具(ju)(ju)有差(cha)值顯示功能。
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晶棒XY軸X射線定向粘料儀時間:2023-09-14型號:ALW-XYDZ 700型廠商性質:生產廠家瀏覽量:19820
ALW-XYDZ 700型晶棒(bang)XY軸X射線定(ding)(ding)向粘料(liao)儀為雙(shuang)工(gong)作(zuo)臺(tai),左(zuo)側工(gong)作(zuo)臺(tai)在X光下對(dui)(2~6)英(ying)寸藍寶石晶棒(bang)X軸定(ding)(ding)向,晶棒(bang)長(chang)度Z短為20mm,利用導軌滑動在一(yi)塊料(liao)板上,粘結(jie)多塊晶棒(bang);右側工(gong)作(zuo)臺(tai)在X光下利用工(gong)具(ju)對(dui)(2~6)英(ying)寸藍寶石晶棒(bang)Y軸角度定(ding)(ding)向,然后將晶棒(bang)和(he)夾具(ju)一(yi)起(qi)放到(dao)磨(mo)床進(jin)行參(can)考(kao)面(mian)的玻璃面(mian)進(jin)行磨(mo)平、加工(gong)。儀器(qi)定(ding)(ding)向粘結(jie)精(jing)度±15“/30“,Z小(xiao)讀(du)數1“
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YX-300型X射線雙晶高精度定向儀時間:2023-09-14型號:廠商性質:生產廠家瀏覽量:20012
YX-300型(xing)X射(she)線雙(shuang)晶(jing)高(gao)(gao)精(jing)(jing)度定向儀此種機(ji)型(xing)為(wei)雙(shuang)晶(jing)衍射(she)型(xing)高(gao)(gao)精(jing)(jing)度定向儀,操作簡便,強度較低,可用于更(geng)高(gao)(gao)精(jing)(jing)度水晶(jing)晶(jing)片、壓電晶(jing)體(ti)、光學(xue)晶(jing)體(ti)以及各種單(dan)晶(jing)晶(jing)體(ti)材料的檢測。
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